老化房特性及评估方法

老化房特性及评估方法

国内外研究者对复合绝缘子的老化特性展开大量的研究，以寻找更有效的老化判定方法，对这些方法简要介绍如下。

电特性

（1）泄漏电流 泄漏电流被认为是监测绝缘子老化状态的重要参数之一，其在包含水或雾的测试中，例如转轮法 、斜面法 、1000h 盐雾漏电起痕法等。复合绝缘子表面泄漏电流一般在 10～30mA，显然，泄漏电流幅值表明绝缘子表面已完全湿润了，并不能说明绝缘子已失效或永久丧失了其表面属性。

（2）表面电阻率 表面电阻率常用于比较绝缘子不同表面的电导性，并不是一种非常有效的判定绝缘子老化状态的方法。

（3）局部放电或局部电弧 通过视频设备等观察绝缘子表面的局部放电，可以探测到局部放电的位置，区分放电种类，此方法重复性较差。

（4）闪络电压 诊断复合绝缘子老化与否最普遍采用的电的方法是测量其在雾中的闪络电压，分为洁净雾或盐雾。闪络电压测试能够对绝缘子的表面特性和整体设计进行全面评价。然而具有破坏性，重复性差。

化学特性

（1）傅立叶变换红外光谱（Fourier Transform Infrared Spectroscopy，FTIRSpectroscopy） 分析材料 FTIR 谱图中不同波长所对应的峰值，能够确定其化

学键 [29]，通过与未老化试样的 FTIR 对比可以探测到材料的降解。

（2）X 射线光电子能谱（X-ray Photoelectron Spectroscopy)XPS的原理是用 X 射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子，可以测量光电子的能量，以光电子的动能为横坐标，相对强度为纵坐标可做出光电子能谱图，从而获得试样有关信息。XPS 常用于比较材料表面原子的浓度，也能用来量化硅元素不同的化学价态 。