老化房电晕时间的增加以及电晕电压的升高
发布者: 发布时间:2021-05-18 10:16:32 浏览量:
老化房憎水性的恢复
可移动小分子的存在和主链的柔顺性是硅橡胶憎水性恢复的主要原因,而小分子的丧失、类硅无机物的产生以及主链柔顺性的降低是阻碍憎水性恢复的关键因素。
随着老化房电晕时间的增加以及电晕电压的升高,产生更多的带电粒子,这些带电粒子持续撞击试样表面,生成了更多的可移动小分子,这有利于憎水性的恢复。与此同时,试样表面生成了大量的硅醇 Si-OH、硅烷醇 Si-CH2,而老化房羟基存在使大分子不稳定,容易发生脱水缩合反应,生成了 H2O,以及其它产物。这也解释了电晕后试样表面覆盖的水状物以及白色的析出物。
另一方面,缩合反应中生成了主链含有环状结构、双主链结构或带侧链结构的聚硅氧烷,使可移动的小分子难以迁移到硅橡胶表面,从而阻碍了憎水性的恢复。由此可见,憎水性的恢复是各个因素相互竞争的结果。
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